博雅彩票平台注册西安功率器件測試應用中心設備介紹

可靠性實驗室

編號 設備名稱 功能 試驗標準
XR-001 高低溫濕熱環境試驗箱 85/85/高溫高濕試驗/HTST/LTST JESD22-A101/MIL-STD 750
XR-002 高低溫循環試驗箱 溫度循環試驗 MIL-STD 750 Method 1051
XR-003 高溫反偏老煉檢測系統設備 高溫反偏試驗 JESD22-A108
XR-004 高溫門極老煉檢測系統設備 高溫門極反偏試驗 JESD22-A108
XR-005 高加速壽命與應力篩選試驗箱 加速壽命試驗與高加速應力實驗 Trail data
XR-006 高加速應力試驗箱 高壓蒸煮實驗/加速應力實驗 JESD22A-102/JESD22A-110
XR-007 回流焊爐 預置試驗 JESD22-A113 JEDECJ-STD-020
XR-008 半導體器件功率循環系統 控制實際結溫進行功率循環 MIL-STD-750 method 1037
XR-009 高加速壽命試驗箱 高壓蒸煮實驗/加速應力實驗 JESD22-A110

元器件測試室

編號 設備名稱 功能 試驗標準
XT-001 雪崩能量測試系統 雪崩能力測試 AEC-Q101-004, MIL-STD-750 Method 3470
XT-002 半導體測試系統 直流參數測試 MIL-STD-750F 2012 Method 3400 Series
XT-003 自動探針測試臺 芯片參數測試 Datasheet/Customer Requests
XT-004 高精度功率MOSFET 柵電組測試儀 柵電組測試 JEDEC Standard JESD24-11
XT-005 功率器件動態參數測試系統 動態參數測試 MIL-STD-750 Series
XT-006 穩態熱阻測試儀 分立功率器件參數測試 MIL-STD-750 Series
XT-007 小型溫度試驗箱 溫度環境變化的參數測試 User Specification Customer Requests
XT-008 半導體器件分析儀&曲線追蹤儀 功率分立器件電性能測試 MIL-STD-750F 2012 Series
XT-009 LED測試系統 LED的瞬態以及穩態光學特性測量 LES NA LM-79 GB/T 24824

應用系統測試室

編號 設備名稱 功能 試驗標準
XA-001 開關電源自動測試系統 開關電源的功能性測試 Specification/Customer Requests
XA-002 屏蔽室 射頻干擾的屏蔽 EN50147-1
XA-003 EMI傳導測試系統 傳導抗擾度測試 CISPR 22/FCC Part 15/EN55022
XA-004 電源老化柜 開關電源的老化測試 User Specification/Customer Requests
XA-005 靜電放電測試儀.標準試驗臺 靜電放電抗擾度測試 IEC61000-4-2/EN61000-4-2
XA-006 雷擊浪涌發生器.耦合/去耦網絡 雷擊浪涌抗擾度測試 IEC61000-4-5/EN61000-4-5
XA-007 示波器 波形測試 Specification/Customer Requests
XA-008 安規綜合測試儀 耐電強度、絕緣阻抗和漏電流測試 IEC60950-1/UL60950-1
XA-009 電機測試系統 輪轂電機及差速器電機測試 QC/T792-2007

失效分析實驗室

編號 設備名稱 功能 試驗標準
XF-001 X射線檢測設備 樣品內部探測 MIL-STD-750 Method 2076
XF-002 超聲波掃描顯微鏡 樣品斷面掃描(樣品內部探測) MIL-STD-883 Method 2030
XF-003 金相顯微鏡 目檢 MIL-STD-883/MIL-STD-750/JEDEC
XF-004 體視顯微鏡 連續變倍,高清晰度大視場 -
XF-005 精密切割機 切割 -
XF-006 研磨/拋光機 半自動的磨拋機 -
XF-007 多功能推拉力測試機 拉力測試、焊點剪切力測試和晶粒剪切力測試 MIL-STD-883E JESD22-B116B
XF-008 能量色散型X射線熒光光譜儀 檢測RoHS/WEEE、ELV指令中指定有害物質 RoHS指令博雅彩票平台注册,WEEE指令,ELV指令
?
  • 樣品申請
    在線購買


  • 西安芯派電子科技有限公司
  • 網站備案:陜ICP備09011173號 Copyright ©2008-2014 reserved
博雅彩票平台注册